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电子元器件在高低温冲击测试箱中的测试条件
电子元器件在高低温冲击测试箱中的测试条件
一、高低温冲击测试箱工作原理:  通过器件从二个不同温度的储存箱中交替存放一个很短的时间,考验器件对温度循环的承受能力,也可以考核器件内部不同材料热膨胀系数的匹配情况。 
二、高低温冲击测试箱用途:  可靠性试验摸底,工艺试验。 
三、:  冷槽:    - 55℃  高温储存箱 :3.5KW  0℃~ 300℃ (温度可设定) 
四、操作规范:  
4.1常规产品规定每季度做一次周期试验,试验条件及判据采用或等效采用 产品标准;新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。 
4.2采用LTPD的抽样方法,在第一次试验不合格时,可采用追加样品抽样 方法或采用筛选方法重新抽样,但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。  
4.3若LTPD=10%,则抽22只,0收1退,追加抽样为38只,1收2退。抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。  
4.4要严格按照冷槽、高温储存箱“技术说明书”操作顺序操作: 
①把要做试验的样管用TVR6000综测仪或生产线测试仪进行测试并逐只记录;  
②把管子放在高低温冲击测试箱中,重复下表所载温度循环10~100次。

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